生產監控與光學看板

Real-time Opto-Electronics Manufacturing Intelligence.

SYSTEM ONLINE
LAST UPDATED: 2026-04-20 14:32:01
蒸鍍艙壓力/溫度趨勢圖 (Deposition Chamber Monitoring)
像素點亮測試良率圖 (Pixel Lighting Yield)
色座標分佈散佈圖 (CIE Coordinates Dist.)
製程拓撲視窗 (Process Topology)
LOAD LOCK
UNLOAD
EVAPORATION
TFE ENCAP
AOI TEST
  • OHT 傳輸系統:正常
  • 真空傳送腔:運行中
  • FMM 自動對位:就緒
品質檢測看板 (AOI Stats)
缺陷分類:微塵 (Particle) 12 ppm
缺陷分類:短路 (Short) 5 ppm

雷射修補 (Laser Repair) 成功率 99.2%